高壓絕緣電阻測試儀庫號：M408526高壓絕緣電阻測試儀庫號：M408526

產(chǎn)品特點：
1.5寸觸摸彩屏，測試數(shù)據(jù)同屏顯示。測試操作及查詢歷史記錄方便。
2.絶緣電阻量程：0.005MΩ～10.0TΩ。
3.輸出額定電壓多達(dá)7檔（50V，250V，500V，1kV，2.5kV，5kV，10kV）。
4.大短路電流：5mA。
5.輸出功率大，在分布電容較大的場景下（如長電纜線），以及強(qiáng)電磁干擾環(huán)境下(如變電站)，具有穩(wěn)定的測試能力。
6.測量指標(biāo)：絶緣電阻(IR)、極化指數(shù)(PI)、吸收比(DAR)、步進(jìn)（STEP）、斜坡（RAMP）、交直流電壓（V）。
7.自設(shè)置測量模式，可選擇PI、DAR計算公式，為用戶提供多種選擇。
8.自設(shè)電壓模式:可自由設(shè)定測試電壓及測試時長，方便特殊場景需要。
9.電壓監(jiān)視器：自動監(jiān)測被測物帶電電壓。電壓過36V自動禁止測試，保護(hù)儀表和操作人員。
10.電流監(jiān)視器：自動顯示測試回路的電流。
11.溫度監(jiān)視器：自動顯示儀表箱內(nèi)的溫濕度。
12.自動放電功能，測試后自動快速釋放被測物的充電電荷，不用外加放電回路。
13.大容量充電鋰電池組14.8V 5200mAh。以保障長時間測試工作。
14.大容量測試記錄存儲器，測試記錄可在本儀器直接瀏覽分析。可自動存儲具有測試日期、測試計|時的實時測試數(shù)據(jù)共1000組。
15.USB通信上傳功能，記錄數(shù)據(jù)可上傳電腦進(jìn)行存儲數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析。
16.藍(lán)牙通信功能，可將測試結(jié)果上傳到手機(jī)。
17.雙層外殼結(jié)構(gòu)，防護(hù)等級IP65（合上蓋子時）。
型號 輸出電壓 絕緣電阻量程 短路電流
ETCR3500 50V，250V，500V，1kV，2.5kV，5kV 0.005MΩ～5.00TΩ 5mA MAX
五.技術(shù)規(guī)格
功 能 絕緣電阻測試（IR）；極化指數(shù)測試（PI）；吸收比測試（DAR）；步進(jìn)測試（STEP）；斜坡測試（RAMP）；電壓測試（V）。
電 源 DC14.8V，5200mAh 可充鋰電池
輸出電壓檔位 ETCR3500：50V，250V，500V，1kV，2.5kV，5kV
ETCR3500B：50V，250V，500V，1kV，2.5kV，5kV，10kV
自設(shè)輸出電壓 3500：40V～5kV，3500B：40V～10kV
輸出電壓精度 +4%±10V（50V時+4%±2V）
絕緣電阻
測試范圍 ETCR3500：0.005MΩ～5.00TΩ
ETCR3500B：0.005MΩ～10.0TΩ
短路電流 5mA MAX
極化指數(shù)（PI） 有
吸收比（DAR） 有
步進(jìn)（STEP） 有
斜坡（RAMP） 有
電壓測量 范圍：DC:0V～1000V；精度±5%rdg±3V
范圍：AC:0V～700V；精度±5%rdg±3V
實時電流示數(shù) 顯示測試電流值，電流顯圍：0.001nA～5mA
實時電壓示數(shù) 實時監(jiān)測測試端子電壓，非測試狀態(tài)下電壓大于36V時禁止測試，以保護(hù)儀表及操作人員安|全。
測試計|時器 自動記錄測試時長，計|時范圍：0s～9999s
測試時間 選擇DAR、PI測試選項后，在測得結(jié)果后立即停止測試；在自定義測試模式時，可自行設(shè)定測試時長；常規(guī)測試模式不限定測試時間，測試人員可手動終止測試。
自設(shè)測試時間 10秒～3600秒
存儲功能 自動存儲測試數(shù)據(jù)，可在本機(jī)顯示、回放保存的測試記錄。
USB通信 有，可通過USB線將測試記錄轉(zhuǎn)儲到PC中。
藍(lán)牙通信 有，可連接安卓手機(jī)或其他具有藍(lán)牙通信功能的裝置。
電池電量顯示 有電池電量顯示，電池電壓低時提醒及時充電
自動關(guān)機(jī)功能 開機(jī)15分鐘后自動關(guān)機(jī)
儀表尺寸 約280mm×260mm×160mm
儀表質(zhì)量 ETCR3500：約3344g (含電池)；
ETCR3500B：約3412g（含電池）；
總質(zhì)量：約5.7kg（含附件）
保護(hù)等級 合上蓋子IP65，打開蓋子IP40
大抗噪聲/干擾 6mA
工作環(huán)境 -20℃～50℃；80%RH
存儲環(huán)境 -25℃～65℃；80%RH
絶緣電阻 50MΩ（1000v）（測試線路與外殼間）
耐 壓 AC 3kV 50Hz 1min（測試線路與外殼間）